Autor: Firma Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS

Fraunhofer ENAS präsentiert in Japan ein optisches Monitoringsystem zur Qualitätskontrolle von Galvaniklösungen

Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS zeigt auf der diesjährigen MEMS Sensing & Network System vom 4. bis 6. Oktober 2017 in Chiba, Japan, einen Demonstrator eines Monitoring-Systems für Galvaniklösungen. Das System basiert auf optischer Sensorik und wurde gemeinsam mit der Firma SHINKO ELECTRIC INDUSTRIES Co., Ltd. aus Japan entwickelt. […]