Autor: Firma Instrument Systems

SID Display Week 2024: Höchste Farbgenauigkeit bei kürzester Taktzeit

Auf der SID Display Week 2024 präsentiert Instrument Systems seine außergewöhnliche Lichtmesstechnik für Displays – produktionstauglich und mit herausragender Genauigkeit. Auf der diesjährigen SID Display Week, die vom 12.-17. Mai 2024 in San Jose, CA (USA) stattfindet, ist Instrument Systems mit einem prominenten Stand #1115 am German Pavillon vertreten. Instrument […]

Lichtmesstechnik für eine perfekte AR/VR-Welt

Instrument Systems zeigt auf der Photonics West 2024 und der SPIE.AR|VR|MR 2024 sein Portfolio zur optischen Qualitätssicherung von AR/VR-Devices entlang der gesamten Produktionskette. An Stand 6101 der SPIE.AR|VR|MR 2024 in San Francisco launcht Instrument Systems seine neue LumiTop 5300 AR/VR. Die 2D Leuchtdichte- und Farbmesskamera verfügt über eine sehr hohe […]

Display-Messungen bei hoher und niedriger Leuchtdichte

Instrument Systems hat speziell für Display-Produktionstests unter besonderen Leuchtdichtebedingungen die neuen Farbmesskameras LumiTop X20 und LumiTop X30 entwickelt. Die LumiTop X20 und X30 zeichnen sich durch eine hohe Kameraauflösung (20 MP bzw. 31 MP) sowie einen verbesserten Messbereich von mcd/m² bis Mcd/m² aus. Beide Kameras basieren auf dem spektral optimierten […]

Instrument Systems ist neues Mitglied der MicroLED Industry Association MIA

Instrument Systems ist als einer der führenden Hersteller von Highend-Lichtmesstechnik der MicroLED Industry Association MIA beigetreten. Mit seiner aktiven Mitgliedschaft unterstützt Instrument Systems die Entwicklung und Einführung von μLED-Displaytechnologien. Bereits seit 1986 setzt Instrument Systems weltweit gültige Standards für hochgenaue spektralradiometrische Messungen in der LED-Industrie, engagiert sich in Normungsgremien und […]

Optische Charakterisierung von IR-Emittern

Instrument Systems präsentiert auf der LASER WoP 2023 sein umfangreiches Testportfolio für IR-Emitter und VCSEL. Neue Produktentwicklungen im Bereich der Spektralradiometer der CAS-Serie und der VTC-Kameras bedienen den immens gewachsenen Markt der VCSEL-Produktion für den kurzwelligen Infrarot-Bereich von 780 bis 1700 nm. Das neue CAS 140D IR besitzt gegenüber seinem […]

ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden

Instrument Systems bietet seit Januar 2023 optional seine ISO 17025 konformen Prüfungen der Beleuchtungsstärke auch am Installationsort seiner großen Lichtmessanlagen der AMS und LGS Goniophotometer an. Bisher galt die Akkreditierung für die Vor-Ort-Prüfung nur für die DMS Display-Messsysteme von Instrument Systems. Die Möglichkeit, Geräte zur Erlangung eines ISO 17025 konformen […]

Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays

Instrument Systems zeigt auf der SPIE Photonics West 2023 schnelle und hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit innovativen Kamerasystemen zur Vermessung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays. An Stand 4106 der SPIE Photonics West 2023 (USA) zeigt Instrument Systems seine Spektralradiometer der Premiumklasse sowie kombinierte Messlösungen mit absolut kalibrierten Kameras. Die spektral […]

Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays

At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays. Munich, December 2022 – At booth 4106 at SPIE Photonics West 2023 (USA) Instrument Systems will be showcasing its premium-class spectroradiometers and […]

VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award

Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit dem „Laser Focus World Innovators Award 2022“ in Silber aus. Die VCSEL-Analysekamera VTC 4000 ist speziell für die ultraschnelle und präzise 2D-Nahfeldanalyse von schmalbandigen Emittern, […]

LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen

Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die Qualitätsprüfung von µLED-Modulen.  München, September 2022 – Instrument Systems zeigt auf der Light+Building in Frankfurt Halle 8.0 H38 seine spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop 4000 zur Prüfung von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen. […]