Tag: 5. Juli 2019

Schnelle, winkelabhängige Charakterisierung von NIR-Emittern

Polytec stellt zwei neue NIR-Emitter-Charakterisierungssysteme des Herstellers Eldim vor. Eldim entwickelte die Systeme für die Messung winkelabhängiger Eigenschaften von NIR-Lichtquellen. Sie eignen sich sowohl für den R&D-Bereich als auch für die Qualitätskontrolle in der Produktion. Beide Geräte messen berührungslos. Sie erzeugen mit einer einzigen Messung ein vollständiges Abbild innerhalb des […]

IT-Modernisierung und Digitalisierung haben bei Bundeswehr und Bund hohe Priorität

Welche Entwicklungen gibt es in Sachen Digitalisierung der Bundeswehr und Konsolidierung der Bundes-IT? Diese Frage stand am 3. Juli im Mittelpunkt einer eintägigen Konferenz, zu der AFCEA Bonn e.V. und BWI in die Luftwaffenkaserne Köln-Wahn eingeladen hatten. Unter dem Motto „Digitale Kompetenz und Konvergenz bei Bundeswehr und Bund“ gaben Vertreter […]